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更新時間:2025-05-14
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更新時間:2025-05-14
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更新時間:2025-05-14
電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試 Emmc5 上電時序測試 國產芯片替代測試 EMMC 器件測試
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更新時間:2025-05-14
PCIE2.0 3.0 驗證,調試和一到性測試解決方案
pcie2.0 3.0 驗證,調試和一到性測試解決方案 si信號完整性測試,主要內容是電源上電時序、復位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試。
更新時間:2025-05-14
DDR2 DDR3 DDR4 上電時序測試  電源紋波測試
ddr2 ddr3 ddr4 上電時序測試 電源紋波測試 開關電源自身產生的噪聲是一種高頻的脈沖串, 由發生在開關導通與截止瞬間產生的尖脈沖所造成, 也稱為開關噪聲。噪聲脈沖串的頻率比開關頻率高得多, 噪聲電壓是其峰峰值。 噪聲電壓的振幅很大程度上與開關電源的拓撲、電路中的寄生狀態及 pcb的設計有關。
更新時間:2025-05-14
DDR2 時鐘測試 數據信號測試
ddr2 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
更新時間:2025-05-14
DDR2 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
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更新時間:2025-05-14
DDR2 復位測試 CLK測試 DQS測試
ddr2 復位測試 clk測試 dqs測試 以太網一致性測試 時序測試
更新時間:2025-05-14
DDR3 上電時序測試  電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試
ddr3 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試
更新時間:2025-05-14
DDR3 復位測試 CLK測試 DQS測試
ddr3 復位測試 clk測試 dqs測試 眼圖測試 抖動測試 時序測試
更新時間:2025-05-14
DDR3  8位 16M復位測試 CLK測試 DQS測試
ddr3 8位 16m復位測試 clk測試 dqs測試,dd3信號完整性測試,眼圖測試
更新時間:2025-05-14
DDR DDR _Address_A0地址信號質量測試
ddr ddr _address_a0地址信號質量測試 眼圖測試 抖動測試 時序測試
更新時間:2025-05-14
DDR DDR _BA 數據信號質量測試
ddr ddr _ba 數據信號質量測試 數據、地址總線是單板上最常見的總線。它們一般位于芯片的cpu接口。 cpu通過地址總線進行尋址,通過數據總線與其它芯片進行數據交換。
更新時間:2025-05-14
DDR 眼圖測試 DQ測試 DQS測試
ddr 眼圖測試 dq測試 dqs測試 眼圖是在示波器的橫軸上把一串串比特周期疊加,形成眼樣波形。
更新時間:2025-05-14
DDR 眼高測試 眼寬測試
ddr 眼高測試 眼寬測試 在對于一個眼圖進行好和壞的評估時,通常都有一些常見的衡量指標,比如眼高,眼寬,抖動,占空比等。
更新時間:2025-05-14
DDR DQ_RD數據讀測試 DQ_WR數據寫測試
ddr dq_rd數據讀測試 dq_wr數據寫測試 ddr dq_rd數據讀測試 dq_wr數據寫測試
更新時間:2025-05-14
Flash 器件替代測試 替代測試主要內容 替代測試主要指標
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更新時間:2025-05-14

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