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XP204型分析天平
技術指標
最大稱量值
220g
可讀性
0.1mg
重復性:正常加載(sd)
0.07mg(200g)
重復性:微量加載
0.05mg(10g)
線性
0.2mg
四角誤差
0.25mg(100g)
靈敏度漂移
3x10
-6
靈敏度溫度漂移(10-30°C)
1x10
-6
/°C
接口更新速率
23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)
263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)
76×73
XP504DR型分析天平
型分析天平
技術指標
最大稱量值
520g
精細量程的最大稱量值
101g
可讀性
1mg
精細量程的可讀性
0.1mg
重復性:正常加載(sd)
0.6mg(100g)
重復性:微量加載
0.5mg(10g)
重復性:精細量程微量加載
0.1mg(10g)
線性
0.5mg
四角誤差
0.5mg(200g)
靈敏度漂移
4x10
-6
靈敏度溫度漂移(10-30°C)
1x10
-6
/°C
接口更新速率
23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)
263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)
76×73
XP504型分析天平
型分析天平
耗材與選件 天平-輔助顯示屏(柱式(背亮)輔助顯示屏) 天平-輔助顯示屏(臺式(背亮)輔助顯示屏) 天平-打印機及配件(記錄結果打印機適用于LocalCAN)
XP205DR型分析天平
分析天平分析天平技術指標
最大稱量值
220g
精細量程的最大稱量值
81g
可讀性
0.1mg
精細量程的可讀性
0.01mg
重復性:正常加載(sd)
0.06mg(200g)
重復性:微量加載
0.05mg(10g)
重復性:精細量程微量加載
0.015mg(10g)
線性
0.15mg
四角誤差
0.25mg(100g)
靈敏度漂移
2.5x10
-6
靈敏度溫度漂移(10-30°C)
1x10
-6
/°C
接口更新速率
23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)
263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)
76×73
XP205型分析天平
分析天平
技術指標
最大稱量值
220g
可讀性
0.1mg
重復性:正常加載(sd)
0.07mg(200g)
重復性:微量加載
0.05mg(10g)
線性
0.2mg
四角誤差
0.25mg(100g)
靈敏度漂移
3x10
-6
靈敏度溫度漂移(10-30°C)
1x10
-6
/°C
接口更新速率
23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)
263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)
76×73
XP204型分析天平
型分析天平型分析天平技術指標
最大稱量值
220g
可讀性
0.1mg
重復性:正常加載(sd)
0.07mg(200g)
重復性:微量加載
0.05mg(10g)
線性
0.2mg
四角誤差
0.25mg(100g)
靈敏度漂移
3x10
-6
靈敏度溫度漂移(10-30°C)
1x10
-6
/°C
接口更新速率
23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)
263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)
76×73
XP105DR型分析天平
分析天平分析天平技術指標
最大稱量值
120g
精細量程的最大稱量值
31g
可讀性
0.1mg
精細量程的可讀性
0.01mg
重復性:正常加載(sd)
0.06mg(100g)
重復性:微量加載
0.05mg(10g)
重復性:精細量程微量加載
0.015mg(10g)
線性
0.15mg
四角誤差
0.2mg(50g)
靈敏度漂移
4x10
-6
靈敏度溫度漂移(10-30°C)
1x10
-6
/°C
接口更新速率
23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)
263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)
76×73
XP105DR型分析天平
技術指標
最大稱量值
120g
精細量程的最大稱量值
31g
可讀性
0.1mg
精細量程的可讀性
0.01mg
重復性:正常加載(sd)
0.06mg(100g)
重復性:微量加載
0.05mg(10g)
重復性:精細量程微量加載
0.015mg(10g)
線性
0.15mg
四角誤差
0.2mg(50g)
靈敏度漂移
4x10
-6
靈敏度溫度漂移(10-30°C)
1x10
-6
/°C
接口更新速率
23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)
263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)
76×73
XP204型分析天平
技術指標
最大稱量值
220g
可讀性
0.1mg
重復性:正常加載(sd)
0.07mg(200g)
重復性:微量加載
0.05mg(10g)
線性
0.2mg
四角誤差
0.25mg(100g)
靈敏度漂移
3x10
-6
靈敏度溫度漂移(10-30°C)
1x10
-6
/°C
接口更新速率
23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)
263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)
76×73
XP205型分析天平
技術指標
最大稱量值
220g
可讀性
0.1mg
重復性:正常加載(sd)
0.07mg(200g)
重復性:微量加載
0.05mg(10g)
線性
0.2mg
四角誤差
0.25mg(100g)
靈敏度漂移
3x10
-6
靈敏度溫度漂移(10-30°C)
1x10
-6
/°C
接口更新速率
23/s
天平外型尺寸(W×D×H mm)
263×486.5×322
秤盤尺寸(W×D mm)
76×73
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日本RSK精密方形水平儀250*0.05mm
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日本RSK精密方形水平儀200*0.05mm
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日本RSK精密方形水平儀200*0.02mm
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日本RSK精密方形水平儀250*0.1mm
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日本RSK精密方形水平儀200*0.1mm
2025/5/6 1:50:53
日本RSK精密方形水平儀150*0.1mm
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日本RSK精密方形水平儀150*0.05mm
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日本RSK精密方形水平儀300*0.05mm
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日本RSK精密方形水平儀250*0.05mm
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